JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡

JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡

     不僅擁有信譽*的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了新的控制系統，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能*，操作方便，簡明易懂，能在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。

• 操作性改進
• 新操作軟件“TEM Center” 可在64位版本Windows®上運行，簡明易懂，適合初學者使用。
• 功能高度整合
• 通過整合TEM Center 和高清CCD相機（選配）及掃描透射圖像（BF/DF 像）觀察功能（選配），在TEM Center 圖形用戶界面上操作，更加簡單直觀。
• 豐富的用戶輔助功能
• 擁有豐富的用戶輔助功能（自動聚焦、自動襯度/亮度、自動曝光、自動圖像拼接、漂移校正、樣品臺導航功能等）。
• 圖像瀏覽／編輯軟件
• 使用Viewer 軟件可以離線瀏覽／編輯圖像。
• *Windows 為美國微軟公司的注冊商標。
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  物鏡極靴*1	超高分辨UHR	高分辨HR	高傾斜HT	冷凍傳輸CR	高襯度HC
  分辨率
  點分辨率	0.194nm	0.23nm	0.25nm	0.27nm	0.31nm
  線分辨率	0.14nm	0.14nm	0.14nm	0.14nm	0.14nm
  STEM明場像*2	1.0nm
  加速電壓	80、100、120、160、200kv
  倍率（TEM）*2
  MAG模式	x 2,000 – 1,500,000		x1,500 – 1,200,000	x1,200 – 1,000,000	x1,000 – 800,000
  Low MAG模式	x 30 – 6,000				x 30 – 2,000
  SA MAG模式	x 8,000 – 800,000		x 6,000 – 600,000	x 5,000 – 600,000	x 5,000 – 400,000
  倍率（STEM）*2
  MAG模式	x 2,000 – 2,000,000
  Low MAG模式	x 100 – 15,000

• *1 : 訂購時請物鏡種類。
  *2 : 為選配件。

歡迎選購本公司產品，JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡。