ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀

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更新時間2023-10-03

北京中科匯儀環(huán)保科技有限公司

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ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀 ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術，可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。 ......

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀產品詳情

儀器詳情
儀器參數

儀器詳情Particulars

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ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術，可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀產品簡介：

ATP5105高靈敏度、紫外增強微型光纖光譜儀(制冷型背照式CCD)，它采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術，CCD可工作在設定的恒溫環(huán)境(*低可達-15oC)，從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了好的信噪比(比同類競爭對手提高了約2倍)，而且提高了ATP5105的測量可靠性，測量結果不隨環(huán)境溫度變化。

同時，為ATP5105特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界*佳水平。

ATP5105可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數據。

ATP5105只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀產品特點：

紫外增強高性能背照式CCD

專門針對紫外優(yōu)化的光路和結構;

探測器：背照式CCD(制冷至-15 oC)

探測器像素：3072

超低噪聲CCD信號處理電路

光譜范圍: 165-1100 nm

光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)

光路結構：交叉C-T

積分時間：2ms-130s

供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A

18 bit, 570KHz A/DConverter

光輸入接口：SMA905或自由空間

數據輸出接口: USB2.0(High speed)或UART

20針雙排可編程外擴接口

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀典型應用：

拉曼光譜儀

微量、快速分光光度計;

光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析

透過率、吸光度檢測;

反射率檢測;

紫外、可見和短波近紅外

波長檢測

中科匯儀網專業(yè)進口檢測儀器供應商，為您提供檢測儀器解決方案，您可在.cn了解更多的產品介紹，也可通過致電我司銷售工程師咨詢產品詳細參數、價格、及使用方法。

儀器參數Technical data

中科匯儀網，我們會努力按照原廠技術參數翻譯編輯，如技術參數中英文有差異，以英文參數為準。

ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀技術參數：

探測器
類型	線陣背照式CCD(制冷到 -15oC)
探測光譜范圍	165-1100 nm
有效像素	3072
像元尺寸	600μm×8μm
全量程范圍	~200 ke^-
靈敏度	6.5 uV/e-
暗噪聲	6 e-
光學參數
波長范圍	165-1100 nm
光學分辨率	0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍）
性噪比	>1300:1
動態(tài)范圍	5000：1
工作溫度	-10-40 ^oC
工作濕度	< 85%RH
光路參數
光學設計	f/4 交叉非對稱C-T光路
焦距	40 mm for incidence / 60 mm for output
入射狹縫寬度	5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制
入射光接口	SMA905光纖接口、自由空間
電氣參數
積分時間	1 ms - 130 second
數據輸出接口	USB 2.0
ADC位深	18 bit
供電電源	DC 5V±10%
工作電流	<2.3A
存儲溫度	-20°C to +70°C
操作溫度	-10°C to +40°C
物理參數
尺寸	120×80×46 mm³
重量	0.5 kg

如需了解更多 ATP5105高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀技術參數或有任何疑問，請聯(lián)系中科匯儀網工作人員。
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關鍵詞：儀器儀表儀表光纖光譜儀光譜儀

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