非诚勿扰百度影音,剑谍在线观看,重生之嫡女毒妃：飒爆了全集免费

Leica EM RES102 多功能離子減薄儀

參考價: 面議

具體成交價以合同協議為準

型號
品牌
所在地上海
更新時間2025-06-25

圓派科學儀器（上海）有限公司

廠商性質代理商
所在地區無錫市
實名認證已認證
產品數量134
人氣值5635

產品標簽

客服在線索取相關資料在線詢價

聯系方式：lili 18616735723 查看聯系方式

聯系我們時請說明是儀表網上看到的信息，謝謝!

公司介紹主營產品

圓派科學儀器(上海)有限公司是一家中德合資，專業致力于工業測試儀器儀表領域，并提供失效分析和可靠性分析整體方案的供應商，公司擁有專業的技術團隊，無論在售前、售中或售后，始終貫徹“專業專注、全心服務”的公司理念。

圓派代理經營*的實驗室檢測設備，無論是技術經驗和商業信用均享有很高的美譽。圓派客戶包括許多世界企業以及各種研究院所，所涉及的行業包括研究院所、鋼鐵、PCB、電子、汽車、五金、塑膠、玻璃、晶體等。

點擊展示更多內容

產品簡介在線詢價

Leica EM RES102 多功能離子減薄儀

Leica EM RES102 多功能離子減薄儀產品詳情

適用于TEM，SEM以及LM的樣品制備

的解決方案

Leica EM RES102 是一款的離子束研磨設備，帶有兩個鞍形場離子源，離子束能量可調，以獲得離子研磨結果。

這一款獨立的桌面型設備集 TEM，SEM和LM樣品制備功能于一體，這與市面上其它設備截然不同。除了高能量離子研磨

功能外，徠卡EM RES102還可用于低能量極溫和的離子束研磨過程。

TEM 樣品

› 單面或雙面離子束研磨適用于材料的離子束減薄過程。鞍形場離子源可獲得很大的電子束透明薄區。

› 程序化控制的離子入射角度變化，適用于完成特殊的樣品制備目的，例如FIB樣品清潔，以減少無定形非晶層。

SEM 或 LM 樣品

› 離子束拋光拋光區域可達25mm。

› 離子束清潔適用于對樣品表面污染層或機械拋光后表面產生的涂抹層進行清潔。

› 樣品表面襯度增強作用，可替代化學刻蝕作用。

› 35°斜坡切割用于制備多層樣品的截面。

› 90°斜坡切割用于制備復合結構的半導體樣品或組裝器件，這種方式所需的機械預加工工作最少。

TEM, SEM 或 LM樣品制備

- 在于您的選擇

為了支持多樣化的應用需求，Leica EM RES102 可以裝配各種樣品臺以適用于TEM，SEM及LM樣品制備。預抽室

系統實現樣品快速交換，從而可有效提高樣品交換效率。

SEM

該樣品臺適用于SEM和LM樣品的離子束清潔，拋光和襯度增強，可在環境溫度下或 LN2制冷情況下使用。SEM樣品臺

可以制備尺寸達 25mm 的樣品。適配器用于夾持商品化生產的帶有3.1mm直徑插針的SEM樣品座。

SEM

斜坡切割樣品臺適用于切割樣品獲得縱截面(90°)或斜截面(35°)，便于SEM觀察樣品內部縱向結構，可以在環境溫度下或LN2 制冷情況下使用。SEM clamp holder to hold small sampleswith maximal dimensions of 5(H) x 7(W) x2(T)mm.This holder can be easily transferredto the SEM without removing the sample.TEM Sample Holder (Quick ClampHolder)for single and double-sided low angle millingdown to 4°.

SEM

薄片樣品臺用于夾持尺寸為5(H)×7(W)×2(D) mm樣品。該樣品臺可以很方便地被直接轉移進SEM中，而不需要取出樣

品。

TEM

TEM樣品夾用于單面或雙面離子束減薄，減薄角度可低至4°。

TEM

TEM冷凍樣品夾具與LN2制冷裝置聯用，用于制備溫度敏感型樣品。

FIB

FIB清潔樣品臺用于清潔FIB樣品，減少表面無定形非晶層。

Leica EM RES102 可對樣品進行離子束減薄，清潔，截面切割，拋光以及襯度增強，這極大滿足了您對應用需求的多樣化和便利性。

操作簡便

› 19”觸摸屏電腦控制單元，監控并記錄制樣過程

› 內置應用參數庫

› 程序化制樣參數設定，加速初學者學習曲線

› 幫助文件幫助初學者以及對設備進行維護

高效/節約成本

› TEM，SEM和LM應用功能集于一體

› TEM樣品制備獲得的薄區大，有效提高了TEM樣品制備效率

› SEM樣品制備可達25mm樣品直徑

› 預抽室系統幫助快速交換樣品，減少等待時間，并保證了樣品室的持續高真空

› 局域網功能方便遠程操控

› LN2樣品臺使得溫度敏感型樣品可在優化條件下進行離子研磨

安全

› 精確的自動終止功能，適用于光學終止或透明樣品的法拉第杯終止

› 在制樣過程中可以時時存儲活圖像或視頻

› 離子源和樣品運動馬達驅動，程序化控制，因而可獲得重復性制樣結果

關鍵詞：觸摸屏控制單元

熱門產品

產品名稱	參考價	地區	公司名稱	更新時間
多功能離子減薄儀Leica EM RES102	面議		沈陽華儀時代科技有限公司	2020-08-31	在線詢價
Leica EM RES102 多功能離子減薄儀	面議		上海鯨藍儀器科技有限公司	2026-06-12	在線詢價
德國徠卡離子減薄儀 EM RES102	面議		武漢茂迪科技有限公司	2026-07-13	在線詢價
帶磁控濺射離子束刻蝕系統（MU 450）	面議	上海	上海續波光電技術有限公司	2026-06-02	在線詢價
提供電子束曝光/紫外曝光/深硅刻蝕/等離子刻蝕及測量服務	面議	上海	上海續波光電技術有限公司	2026-06-02	在線詢價
12英寸大面積專用離子減薄儀（MU700）	面議	上海	上海續波光電技術有限公司	2026-06-02	在線詢價

免責申明

所展示的信息由會員自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責，儀表網對此不承擔任何責任。儀表網不涉及用戶間因交易而產生的法律關系及法律糾紛，糾紛由您自行協商解決

友情提醒：本網站僅作為用戶尋找交易對象，就貨物和服務的交易進行協商，以及獲取各類與貿易相關的服務信息的平臺。為避免產生購買風險，建議您在購買相關產品前務必確認供應商資質及產品質量。過低的價格、夸張的描述、私人銀行賬戶等都有可能是虛假信息，請采購商謹慎對待，謹防欺詐，對于任何付款行為請您慎重抉擇！如您遇到欺詐等不誠信行為，請您立即與儀表網聯系，如查證屬實，儀表網會對該企業商鋪做注銷處理，但儀表網不對您因此造成的損失承擔責任！

相關產品分類更多+