SYN5305 高精度晶振測試儀

SYN5305型晶振測試儀

SYN5305型晶振測試儀集合有源和無源晶振測試，多種貼片和直插封裝，1.8V/2.5V/3.3V/5V等多種晶振供電電壓，涵蓋大多數電子產品晶體測試，廣泛應用于郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業對于晶振的驗證或篩選。

產品特點

a)                      高度集成，精度高；

b)                      穩定性好，性能可靠；

c)                      7寸觸摸屏設計，操作簡單。

典型應用

1)                      通信設備、汽車電子設備、醫療電子、安防電子、工業自動化設備等生產商，對于提供基準頻率的晶振進行驗證或篩選。

產品功能

1)                      PPM測量，上下限測量；

2)                      頻率測量范圍高達6GHz;

3)                      頻率測量分辨率高達12位/s;

4)                      多種晶振測試工裝，滿足常規測試應用。

晶振是有源晶振的簡稱，又叫振蕩器。英文名稱是oscillator。

晶體則是無源晶振的簡稱，也叫諧振器。英文名稱是crystal，電路上簡稱為XTAL。

無源晶振（晶體）：需要借助時鐘電路才能產生振蕩信號。

有源晶振（晶振）：內部有時鐘電路，只需供電便可產生振蕩信號。

有源晶振內部是包含了一個無源晶振，然后再將阻容、放大等電路也包含進去。

標稱頻率(Normal Frequency) F0：電路設計上所需的實際頻率。

振動模式(Mode of Oscillation)：按照切割工藝來劃分的。

負載電容(Load Capacitance)CL：在電路中跨接晶振兩端總的外界有效電容；要等于或接近晶振數據手冊給出的數值才能使晶振按照預期工作；比較通常使用的24MHz晶振負載電容是20pF；

靜態電容C0：以石英晶片為介電材料和兩個電極之間的電容；很多晶振規格里是<3pF的；

技術指標

總頻差：在規定的時間內，由于規定的工作和非工作參數全部組合而引起的晶體振蕩器頻率與給定標稱頻率的最大頻差。

　　說明：總頻差包括頻率溫度穩定度、頻率溫度準確度、頻率老化率、頻率電源電壓穩

　　定度和頻率負載穩定度共同造成的最大頻差。一般只在對短期頻率穩定度關心，而對其他頻

　　率穩定度指標不嚴格要求的場合采用。例如：精密制導雷達。

　　⒉ 頻率溫度穩定度：在標稱電源和負載下，工作在規定溫度范圍內的不帶隱含基準溫度

　　或帶隱含基準溫度的最大允許頻偏。

　　fT=±（fmax-fmin)/(fmax+fmin)

　　fTref =±MAX[|（fmax-fref)/fref|，|(fmin-fref)/fref|]

　　fT：頻率溫度穩定度（不帶隱含基準溫度）

　　fTref：頻率溫度穩定度（帶隱含基準溫度）

　　fmax ：規定溫度范圍內測得的最高頻率

　　fmin：規定溫度范圍內測得的頻率

　　fref：規定基準溫度測得的頻率

　　說明：采用fTref指標的晶體振蕩器其生產難度要高于采用fT指標的晶體振蕩器，故

　　fTref指標的晶體振蕩器售價較高。