方塊電阻測試儀 型號:TZ240-ST-21

方塊電阻測試儀 型號:TZ240-ST-21庫號：M397541   查看hh方塊電阻測試儀是測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜等同類物質的薄層電阻。該儀器以集成電路為；用基準電源和運算放大器組成穩流源；帶回路正常指示電路；并配以LCD顯示讀數。特點1采用集成電路作為儀器的主要部分；2以LCD顯示讀數；3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；4體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；5手握式探筆，球形探針、鍍金探針接觸被測材料及保護薄膜6探頭帶抗靜電模塊指標測量范圍按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；分辨率：0.01Ω/□恒流源測量過程：≤±0.8%模數轉換器量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD顯示；過量程均自動顯示；小數點同步顯示；測量不確定度在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%四探針探頭規格間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ電源9V疊層電池1節