PCT 與 HAST 高壓加速老化試驗箱兩者之間有什么區別

PCT 與 HAST 高壓加速老化試驗箱均為電子行業高溫高壓加速濕熱可靠性設備，用來快速考核半導體、PCB 板、塑封元器件、連接器的抗濕熱能力，但二者試驗機理不同，不能互相替代。

PCT 高壓蒸煮試驗箱采用飽和蒸汽環境，箱內濕度恒定 100% RH，溫度和壓力相互綁定，無法單獨調節濕度，腔體內容易產生冷凝水，近似高壓水煮工況，遵循 JESD22?A102 標準。該設備主要用來檢測器件封裝縫隙、針孔、密封性能以及材料耐水解性能。由于腔內存在液態凝露，容易造成樣品短路，不支持通電偏壓測試，多用于來料篩選、封裝工藝的快速摸底試驗。

HAST 高加速應力試驗箱為非飽和蒸汽模式，溫度、濕度、壓力三者可以獨立閉環控制，濕度可設置 75?95% RH，抑制腔體大量結露，水汽以氣態形式滲透器件內部，符合 JESD22?A110、AEC?Q100 車規電子標準。設備預留偏壓接線端口，可開展 B?HAST 帶電老化測試，模擬產品實際通電運行環境，主要激發電化學腐蝕、離子遷移、絕緣性能下降等失效現象，失效模式更貼近產品真實故障。

簡單來說，PCT 側重考核封裝密封性，依靠冷凝水汽侵入發現密封缺陷；HAST 更偏向真實工況下壽命評估，適合車載電子、芯片等高可靠性產品。市面上部分機型可兼容 PCT、HAST 兩種模式，但普通 PCT 設備無法實現 HAST 非飽和及帶電測試功能，企業需根據測試標準合理選型。